专业XPS(X射线光电子能谱)测试服务

EDS的分析深度通常在微米级别（1-3μm），反映的是体相成分；而XPS是极表面的分析技术，探测深度仅为1-10纳米，专门用于分析材料最表层的元素。此外，XPS不仅能测元素种类和含量，还能测定元素的化学价态（例如区分Fe2+和Fe3+），这是EDS做不到的。

XPS可以检测除氢(H)和氦(He)以外的所有元素。因为H和He的内层电子截面积极小，产生的光电子信号太弱，无法被常规XPS有效检测。对于其他元素，检出限一般在0.1 at%左右。

可以。XPS配备了氩离子溅射枪，可以一边剥离样品表面，一边进行测试。通过这种“深度剖析”功能，我们能获得元素含量随深度变化的分布曲线，非常适合分析多层膜结构、氧化层厚度和界面元素扩散。

XPS是在超高真空中进行的测试。样品必须是固体（粉末、块体或薄膜均可），不能含有挥发性物质，也不能有磁性（或者磁性极弱）。粉末样品建议准备10-20mg，块体样品尺寸通常不超过1cm×1cm，厚度不超过3mm。表面应尽量保持原始状态，避免手触摸或污染。