AEC-Q100 和 AEC-Q101 分别适用于什么产品?
AEC-Q100 主要面向集成电路,AEC-Q101 主要面向分立半导体器件。
| 类别 | 相关项目 | 主要输出 | 注意事项 |
|---|---|---|---|
| AEC-Q100 | HTOL、HAST、ESD、Latch-up 等 | 分组数据、电性验证、试验记录 | 主要面向集成电路 |
| AEC-Q101 | HTRB、H3TRB、功率循环、ESD 等 | 可靠性数据和异常记录 | 主要面向分立半导体器件 |
| 方案流程 | 样品分组、应力试验、电性读点 | 数据汇总与报告 | 需确认标准版本和客户规范 |
AEC-Q100 主要面向集成电路,AEC-Q101 主要面向分立半导体器件。
可以根据研发验证或客户要求选择相关项目,但需明确用途。
由标准分组、读点、重复性和失效分析需求共同决定。
涉及电性或偏置应力的项目通常需要确认测试程序、板卡或夹具。
可以根据器件类型、目标标准和温度等级梳理测试计划。
先记录异常和读点数据,再根据客户确认衔接复测或失效分析。
AEC 测试更强调车规器件适用的分组、条件和判定规范。
测试报告用于记录具体试验项目和结果,不应在没有相应授权或依据的情况下表述为官方认证证书。
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